shimadzu元素分析 X射線衍射儀離子色譜儀

shimadzu元素分析 X射線衍射儀智能實(shí)驗(yàn)SE的介紹
配備高分辨率、高速一維X射線探測器。可以在抑制背景水平的情況下進(jìn)行測量，并且集成的強(qiáng)度效應(yīng)使得檢測痕量成分變得容易。

產(chǎn)品型號(hào)：智能實(shí)驗(yàn)SE
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2023-04-13
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產(chǎn)地	國產(chǎn)	儀器種類	實(shí)驗(yàn)室

shimadzu元素分析 X射線衍射儀智能實(shí)驗(yàn)SE的介紹

搭載凝聚了理學(xué)分析知識(shí)的“向?qū)?功能，實(shí)現(xiàn)了極的自動(dòng)化

這是一款全自動(dòng)多用途 X 射線衍射儀，任何人都可以輕松執(zhí)行各種粉末 X 射線衍射測量，例如粉末樣品的輪廓測量和微小/原位測量。搭載凝聚了理學(xué)的分析知識(shí)的“向?qū)?功能，實(shí)現(xiàn)了極的自動(dòng)化。輕松獲得測量結(jié)果。
您可以選擇專用于配備一維探測器的聚焦光學(xué)系統(tǒng)的入門型號(hào)，以及配備支持顯微和原位測量的二維探測器的高型號(hào)。

特征

無需經(jīng)驗(yàn)即可進(jìn)行各種粉末X射線衍射測量

X射線分析綜合軟件具有強(qiáng)大的用戶引導(dǎo)功能，支持從測量到分析。該軟件基于理學(xué)的分析知識(shí)，提出光學(xué)系統(tǒng)并自動(dòng)調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)并設(shè)置測量條件。可以進(jìn)行范圍廣泛的粉末 X 射線衍射測量，包括粉末輪廓測量和微小/原位測量。

在幾分鐘內(nèi)測量廣角粉末 X 射線衍射圖

配備高分辨率、高速一維X射線探測器。可以在抑制背景水平的情況下進(jìn)行測量，并且集成的強(qiáng)度效應(yīng)使得檢測痕量成分變得容易。

二維 X 射線衍射測量的擴(kuò)展世界

配備HyPix-400混合型多維像素探測器的型號(hào)支持顯微和原位測量。此外，可以輕松獲得有關(guān)樣品狀態(tài)的信息，例如晶粒尺寸和取向。直到現(xiàn)在才注意到的東西極大地?cái)U(kuò)展了可以從粉末 X 射線衍射測量中獲得的知識(shí)范圍。

支持任何測量場景

光學(xué)系統(tǒng)選擇單元和光學(xué)系統(tǒng)/試樣位置自動(dòng)調(diào)整程序可實(shí)現(xiàn)輕松快速的光學(xué)系統(tǒng)切換。可根據(jù)分析目的和樣品形狀選擇光學(xué)系統(tǒng)和附件。

實(shí)現(xiàn)各種應(yīng)用

各種光學(xué)系統(tǒng)配置可用于實(shí)現(xiàn)各種應(yīng)用，例如反射法/透射法測量、使用多毛細(xì)管的微區(qū)測量、小角度X射線散射測量、殘余應(yīng)力/極圖測量等。自動(dòng)實(shí)現(xiàn)這些光學(xué)系統(tǒng)調(diào)整。

實(shí)現(xiàn)具有統(tǒng)一操作性的流暢分析環(huán)境

從分析所需的光學(xué)系統(tǒng)管理和測量等設(shè)備控制到數(shù)據(jù)分析，都可以在一個(gè)軟件上完成。光學(xué)傳感、引導(dǎo)功能和流程欄導(dǎo)航等功能大大提高了用戶友好性。

豐富的附件和樣品架

可提供自動(dòng)6樣品交換器、10樣品自動(dòng)交換器、毛細(xì)管旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)、αβ附件、電池單元附件、各種溫度控制附件、通用大氣分離器、非反射樣品架、透射法樣品架等。 .

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